заместитель директора
Федерального института промышленной собственности (ФИПС)
д.т.н.,, профессор, профессор РГАИС, действительный член РАЕН,
Почетный член Ассоциации «Русское общество оценщиков, член Президиума Экспертного Совета РОО, Судебный эксперт, Признанный Европейский оценщик
Тема: «Новые тенденции в нормативно-методическом регулировании оценки стоимости прав интеллектуальной собственности»
патентный поверенный РФ по товарным знакам, изобретениям, полезным моделям, промышленным образцам, сооснователь юридической компании «ИНТЕЛАЙТ»
Тема: «Оценка НМА как инструмент в судебных спорах и при оптимизации налогообложения»
финансовый директор, специалист по оценке НМА ООО «ИНТЕЛАЙТ»
Тема: «Как использовать отчет об оценке НМА по максимуму»
к.э.н., доцент, доцент кафедры финансов СПбГЭУ
Тема: «Изменение нормативных документов по оценке стоимости объектов ИС»
доцент Факультета технологического менеджмента и инноваций Университета ИТМО
основатель и владелец компаний T.Hunter и Интернет-Розыск
Тема: "Открытые данные и технологическое развитие правоохранительной деятельности в РФ"
начальник отдела патентно-лицензионной работы и информации Санкт-Петербургского государственного морского технического университета
Тема: "Развитие Интеллектуального потенциала и трансферта технологий университетов на основе патентной аналитики"
руководитель по развитию проектов "Кубит практик"
Тема: "Патентная аналитика как важный инструмент для решения стратегических задач бизнеса"
Тема: "Потенциал патентной аналитики для решения задач технологического суверенитета и импортонезависимости"
Тема: "Поддержка конкурентосопособности технологического проекта инструментами патентной аналитики"
главный государственный эксперт отдела промышленных образцов
ФГБУ «Федеральный институт промышленной собственности»
Тема: "Промышленные образцы: практические аспекты подачи и экспертизы заявок по национальной процедуре и в рамках Гаагского соглашения о международной регистрации промышленных образцов"
эксперт отдела промышленных образцов Евразийской патентной организации
Тема: "Особенности евразийской процедуры патентования промышленных образцов"